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掃描電子顯微鏡 Verios XHR SEM

簡(jiǎn)要描述:Verios是FEI的XHR(分辨率)SEM系列的第二代產(chǎn)品

基礎(chǔ)信息

產(chǎn)品型號(hào)

廠商性質(zhì)

代理商

更新時(shí)間

2024-10-25

瀏覽次數(shù)

301
詳細(xì)介紹


Verios 是 FEI 的 XHR(分辨率)SEM 系列的第二代產(chǎn)品。在半導(dǎo)體制造和材料科學(xué)應(yīng)用中,它可在 1 至 30 kV 范圍內(nèi)提供亞納米量級(jí)分辨率以及增強(qiáng)的對(duì)比度,滿足材料精密測(cè)量所需,同時(shí)又不會(huì)削弱傳統(tǒng)掃描電子顯微鏡 (SEM) 所具有的高吞吐量、分析能力、樣本靈活性和易用性等優(yōu)勢(shì)。

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