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掃描電鏡SEM

簡要描述:vFE-SEM獲得的圖像分辨率高,信息豐富,樣品處理相對簡單,并且它可以觀察、測量并分析樣品的細微結(jié)構(gòu),因此被廣泛應用于納米技術(shù)、半導體、電子器件、生命科學、材料等領域v電子槍種類:冷場發(fā)射v二次電子圖象分辨率:0.6nm@15kV

基礎信息

產(chǎn)品型號

廠商性質(zhì)

代理商

更新時間

2024-10-22

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詳細介紹

v FE-SEM獲得的圖像分辨率高,信息豐富,樣品處理相對簡單,并且它可以觀察、測量并分析樣品的細微結(jié)構(gòu),因此被廣泛應用于納米技術(shù)、半導體、電子器件、生命科學、材料等領域

v 電子槍種類:冷場發(fā)射

v 二次電子圖象分辨率:0.6 nm@15kV;0.7nm@1kV

v 放大倍數(shù):20-2,000,000x

v 加速電壓:0.5-30kV


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